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Angewandte Oberflachenanalyse mit SIMS Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie (Paperback)
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Angewandte Oberflachenanalyse mit SIMS Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie (Paperback)

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£42.99
Paperback 302 Pages / Published: 31/07/2012
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In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberfl�chenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Ma�e f�r die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und h�ufig mit- einander kombiniert werden, n�mlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch nicht von einem Autor verfa�t, sondern greift auf drei verschiedene Autoren mit unter- schiedlichen Spezialkenntnissen zur�ck. Dies garantiert dem Leser die direkte Ver- mittlung von theoretischem und experimentellem Wissen auf entsprechendem Niveau f�r die jeweiligen methodischen Teilgebiete. Anderseits ergeben sich dadurch gewisse Unterschiede in der Darstellungsweise und Symbolik zwischen den drei Kapiteln. Dies ist aber sicherlich von untergeordneter Bedeutung im Vergleich zu der durch Experten zu vermittelnden inhaltlichen Substanz. Die einzelnen Kapitel behandeln SIMS, AES und XPS hinsichtlich methodischem Prinzip, physikalischen Grundlagen, Ger�tetechnik, amilytischem Informationsgehalt, qualitativer und quantitativer Analyse und praktischem Einsatz f�r aktuelle Frage- stellungen der Oberfl�chenanalyse von Festk�rpern - insbesondere aus dem Bereich der Werkstoffentwicklung. Die in den einzelnen Kapiteln angef�hrten Ergebnisse wurden im �brigen mit Hochleistungsger�ten der neuesten Generation erhalten, so da� der derzeitig aktuelle Leistungsstand der- Methodik dargestellt wird. Der Leser soll damit nicht nur eine Methode im Detail kennenlernen k�nnen, sondern auch durch die Anf�hrung zahlreicher f�r das experimentelle Arbeiten wichtiger Daten einen Einstieg in den praktischen Einsatz der Methoden erhalten.

Publisher: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN: 9783642701788
Number of pages: 302
Weight: 503 g
Dimensions: 244 x 170 x 17 mm
Edition: Softcover reprint of the original 1st ed. 198

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